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日本工業出版(株)から技術セミナのお知らせ
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◆◆配管保温材下腐食(CUI)対策の最新動向-機器編-◆◆(東京開催 懇親会付き)
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CUI点検では、保温材の撤去・復旧に多大な付帯工事費がかかるため、最少の付帯工事で
検査することが求められています。本セミナーでは、多くのプラントで問題になっているCUIに
つきまして、海外、国内の技術動向と各種検査機器について解説しています。また、一部ご
講演の設備ユーザー、検査会社、機器メーカーの技術者によるパネルディスカッションも予
定しています。検査機器は一部展示もしておりますので、会場にて実機をご覧いただくこと
ができます（展示製品については弊社Webサイトの本セミナーお申込みページでご確認くださ
い）。皆様のご参加をお待ちしております。
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■開催日時：平成２６年６月２６日（木） １０：００〜１９：３０
■開催場所：TKP市ヶ谷カンファレンスセンタ（東京都新宿区市谷八幡町8 番地）
■主 催 ：日本工業出版 月刊「検査技術」 月刊「配管技術」 月刊「計測技術」
■定 員 ：40名
■受講料 ：40,000円 税別（テキスト 昼食 懇親会費含む）
※3名以上ご参加の場合お一人様35,000円
■申込方法：下記のホームページからお申し込みください。
後日、請求書、受付票を発行させていただきます。
http://www.nikko-pb.co.jp/nk_sem/sem_140626.htm
■プログラム（予定）（敬称略）
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10:00〜11:00 ／荻田 玄 （千代田化工建設）
海外プラントCUI対策の最新動向
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2008年にEFC55としてCUIガイドラインが発行された。その内容の一部紹介と共に、
海外プラントにおける設計面、施工仕様の観点からのCUI対策の最新動向、事例を紹介する。
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11:10〜12:10 ／出牛 利重 （日本工業検査）
国内プラントにおける保温機器 配管の検査技術動向
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保温配管、機器の維持管理手法として各種スクリーニング技術が2000年頃に紹介され大きな
期待が寄せられていた。それから10年以上が経過した現在、それぞれの特徴から適した対象
や運用、また問題点を紹介する。
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13:00〜16:00 *1テーマ20分
「CUI等腐食検査におけるGEの最新検査技術」
中川真一（GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ）
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「保温配管などの検査手法の紹介」 金原了二（シーエックスアール）
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「CUI検査技術の紹介」 篠田邦彦（非破壊検査）
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「新技術(MMM法)検査、海外プラントの動向」 四塚勝久（エフティーエス）
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「局部減肉の3D計測と供用適正評価」 新村稔（セイコーウェーブ）
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「中性子水分計と茨城プロジェクトによる成果」 塚本瑠美子（日立パワーソリューションズ）
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「断熱材の劣化診断について」 兵頭賢一（ニチアス）
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「内挿式リモートフィールドセンサ牽引が可能な小径管内移動ロボットの開発」
ミケレ・グアラニエリ（ハイボット）、河部俊英（シーエックスアール）
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16:10〜17:10 パネルディスカッション 「CUI検査技術の現状と今後の展望」
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コーディネーター 三浦到（三菱化学）月刊「検査技術」編集委員
パネラー GE、CXR、非破壊検査、ニチアス、ハイボット
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17:30〜19:30 技術交流会（懇親会）
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11:00〜19:30 展示コーナー（予定）
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「Rightrax.DXR250C-Wワイヤレスフラットパネル」
GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ
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「Thru-VU(PCとパネル展示)、MST（テストピースによる実演）」 シーエックスアール
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「残留応力検出機TSC３M 12」 エフティーエス
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「3DToolbox」 セイコーウェーブ
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「埋設管管インナーUT」 新日本非破壊検査
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※配信停止をご希望の方は、tgo@nikko-pb.co.jp へメールにてご連絡ください。※
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編集発行
日本工業出版株式会社
セミナー事業部
TEL,03-3944-118
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